Tervetuloa kirjastoon!

*00001126nam a22003494a 4500
*0011988
*00520200511215536.0
*008050109s1995\\\\xx\||||||||||\||||||eng|c
*020  $a0-470-23445-8 ( USA, nid.)
*020  $a0-582-23779-3 ( England, nid.)
*035  $a3030
*035  $a(conv)0000003030
*0410 $aeng
*099  $d2$p28$k2003378$oIX$01$f0$71$y20050109$z20050109$b4133
*1001 $aBentley, John P.
*24510$aPrinciples of measurement systems /$cJohn P. Bentley.
*250  $a3rd ed.
*260  $aLondon :$bLongman,$c1995.
*300  $axi, 468 s. ;$c25 cm.
*500  $aLisäpainokset: Repr. 1997.
*500  $aMat.-Luonnont. tdk. s.  134/2003. kestää pari viikkoa!.
*650 7$amittausvälineet$2ysa
*650 7$amittaustekniikka$2ysa
*650 7$amittausmenetelmät$2ysa
*650 7$amittauslaitteet$2ysa
*653  $aPhysical instruments
*653  $aPhysical measurements
*653  $aEngineering instruments
*653  $aAutomatic control
*653  $afysikaalinen mittaustekniikka
*653  $ameasurement theory (INS)
*653  $ameasurement systems (INS)
*852  $lBENTLEY
*979  $a0000003030
*999  $aMikroMarc$b[Book]$x0
^

Kuvausta ei toistaiseksi saatavana